4 tommers (100 mm) wafer

4 tommers (100 mm) wafer

Mikroelektronikkens produktlinje inkluderer både enkeltsidigpolert (SSP) og dobbeltsidigpolert (DSP) wafersubstrater. ● 4 "P-type, polert silisiumskive (25 stk) ● Orientering: 100 ● Resistivitet: 0,1 - 40 Ohm • cm (Det kan variere fra batch til batch) ● Tykkelse: 525 +/- 20um ● Prime / Monitor / Test Grade
Share to
Sende bookingforespørsel
Chat nå
Beskrivelse
Tekniske parametere

【Produkt introduksjon】

4 tommer (100 mm) polert wafer DSC01065 730


4 tommer (100 mm) polert wafer DSC01070 730


MATERIALE EGENSKAPER

Parameter

Karakteristisk

ASTM kontrollmetode

Type / Dopant

P, Bor N, Fosfor N, Antimon N, Arsen

F42

orienteringer

<100>, <111> skille retninger per kundens spesifikasjoner

F26

Oksygeninnhold

10 18 ppmA Tilpassede toleranser per kundens spesifikasjon

F121

Karboninnhold

<0,5 ppma="" tilpassede="" toleranser="" per="" kundens="">

F123

Resistivitetsområder -P, Boron-N, Fosfor-N, Antimon-N, Arsen

0,001 - 50 ohm · cm
0,1 - 40 ohm · cm
0,005 - 0,025 ohm · cm
<0,005 ohm="">

F84

 

MEKANISKE EGENSKAPER

Parameter

Prime

Overvåk / test A

Test

ASTM Metode

Diameter

100 ± 0,2 mm

100 ± 0,2 mm

100 ± 0,5 mm

F613

Tykkelse

525 ± 20 μm (standard)

525 ± 25 μm (standard) 381 ± 25 μm 625 ± 25 μm 700 ± 25 μm 800 ± 25 μm 1000 ± 25 μm 1500 ± 25 μm

525 ± 50 μm (standard)

F533

TTV

<5>

<10>

<15>

F657

Bue

<30>

<30>

<40>

F657

Pakke inn

<30>

<30>

<40>

F657

Kantrunding

SEMI-STD

F928

merking

SEMI-STD Flats, kun primær SEMI-flat

F26, F671

  

OVERFLATE KVALITET

Parameter

Prime

Overvåk / test A

Test

ASTM Metode

Forsiden Kriterier

Overflateforhold

Kjemisk mekanisk polert

Kjemisk mekanisk polert

Kjemisk mekanisk polert

F523

Overflateruhet

<2 a="">

<2 a="">

<2 a="">


Forurensning, partikler @> 0,3 μm

= 20

= 20

= 30

F523

Haze, Pits, Appelsinskall

Ingen

Ingen

Ingen

F523

Sagsmerker, striber

Ingen

Ingen

Ingen

F523

Tilbake Side Kriterier

Sprekk, kråkefe, såker, flekker

Ingen

Ingen

Ingen

F523

Overflateforhold

Caustisk etset

F523

  

Produktbeskrivelse

Mikroelektronikkens produktlinje inkluderer både enkeltsidigpolert (SSP) og dobbeltsidigpolert (DSP) wafersubstrater. Dobbeltsidede polerte wafers kreves vanligvis i halvleder, MEMS og andre applikasjoner der det kreves wafers med tett kontrollerte flathetskarakteristikker.

 

Vi tilbyr også rektangulære og firkantede wafer stykker. I utgangspunktet realiserbar rekkevidde av kantlengder for silisiumplater er 5 x 5 mm2 ... 100 x 120 mm2 osv. Kostnad / waferstykket avhenger av materialet og antall plater som kreves.

 

Tilpasset dicing og polering er også tilgjengelig i henhold til dine krav. Ta gjerne kontakt med oss.

 

Produktegenskaper

·          4 "P / N type, polert silisiumskive (25 stk)

·          Orientering: 100

·          Resistivitet: 0,1 - 40 Ohm · cm (Det kan variere fra batch til batch)

·          Tykkelse: 525 +/- 20um

·          Prime / Monitor / Test Grade


Populære tags: 4 tommer (100mm) wafer, Kina, leverandører, produsenter, fabrikk, laget i Kina

Sende bookingforespørsel
Sende bookingforespørsel