Retningsmessig størkning mono som solskiveer et av de lovende alternative wafer-materialene sammenlignet med monokrystallinsk silisiumskive og multikrystallinsk silisiumskive på grunn av sin relativt høyere konverteringseffektivitet og lavere produksjonskostnader. Men det er fortsatt et stort rom for å forbedre krystallkvaliteten og for å redusere produksjonskostnadene, noe som kan presse waferne inn i fotovoltaisk industri praktisk talt.
1 Materialegenskaper
eiendom | spesifikasjon | Inspeksjonsmetode |
Vekstmetode | retningsmessig størkning | XRD |
Krystallitet | Monokrystallinsk | Foretrukne etseteknikker（ASTM F47-88） |
Konduktivitetstype | P-type | Napson EC-80TPN P/N |
Dopant | Bor、Gallium | - |
Oksygenkonsentrasjon[Oi] | ≦1E+17 tommer/cm3 | FTIR (ASTM F121-83) |
Karbonkonsentrasjon[Cs] | ≦1E+18 tommer/cm3 | FTIR (ASTM F123-91) |
2 Elektriske egenskaper
eiendom | spesifikasjon | Inspeksjonsmetode |
Resistivitet | 0,5-2 Ωcm (Etter anneal) | Wafer inspeksjonssystem |
MCLT (minoritetsbærerlevetid) | ≧10 μs | Sinton QSSPC |
3 geometri
eiendom | spesifikasjon | Inspeksjonsmetode |
geometri | Firkant eller rektangel | Wafer inspeksjonssystem |
Skråkant, figur | linje | Wafer inspeksjonssystem |
Wafer størrelse (Sidelengde*sidelengde) | 156mm * 156mm 157mm * 186mm 166mm * 166mm | Wafer inspeksjonssystem |
Vinkel mellom tilstøtende sider | 90±3° | Wafer inspeksjonssystem |
Populære tags: p type retningsfestning mono som solskive inkludert 166mm * 166mm, Kina, leverandører, produsenter, fabrikk, laget i Kina
